Failure Rate Measurement on Silicon Diodes Reverse Polarized at High Temperature

  1. Osorno, D.
  2. Sanchis-Kilders, E.
  3. Maset, E.
  4. Gilabert, D.
  5. Ferreres, A.
  6. Jordán, J.
  7. Esteve, V.
  8. Gasent-Blesa, J.L.
Actas:
E3S Web of Conferences

ISSN: 2267-1242

Año de publicación: 2017

Volumen: 16

Tipo: Aportación congreso

DOI: 10.1051/E3SCONF/20171611001 GOOGLE SCHOLAR lock_openAcceso abierto editor

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