Analysis of weno schemes for full and global accuracy
- Aràndiga, F.
- Baeza, A.
- Belda, A.M.
- Mulet, P.
ISSN: 0036-1429
Año de publicación: 2011
Volumen: 49
Número: 2
Páginas: 893-915
Tipo: Artículo
Revista:
SIAM Journal on Numerical Analysis