Engineering for the ATLAS SemiConductor Tracker (SCT) End-cap
- Abdesselam, A.
- Allport, P.P.
- Anderson, B.
- Andricek, L.
- Anghinolfi, F.
- Apsimon, R.J.
- Atkinson, T.
- Austin, A.
- Band, H.
- Barclay, P.
- Barr, A.
- Batchelor, L.E.
- Bates, R.L.
- Batley, J.R.
- Beck, G.
- Becker, H.
- Bell, P.
- Bell, W.H.
- Belymam, A.
- Beneš, J.
- Beneš, P.
- Berbee, E.
- Bernabeu, J.
- Bethke, S.
- Bingefors, N.
- Bizzell, J.P.
- Blaszczak, Z.J.
- Blocki, J.
- Brož, J.
- Bohm, J.
- Brenner, R.
- Brodbeck, T.J.
- De Renstrom, P.B.
- Buis, R.
- Burton, G.
- Buskop, J.
- Buttar, C.M.
- Butterworth, J.M.
- Butterworth, S.
- Capocci, E.
- Carpentieri, C.
- Carter, A.A.
- Carter, J.R.
- Chamizo, M.
- Charlton, D.G.
- Cheplakov, A.
- Chilingarov, A.
- Chouridou, S.
- Chren, D.
- Chu, M.L.
- Cindro, V.
- Ciocio, A.
- Civera, J.V.
- Clark, A.
- Coe, P.
- Colijn, A.P.
- Cooke, P.A.
- Costa, M.J.
- Costanzo, D.
- Curtis-Rous, M.
- Dabinett, C.
- Dabrowski, W.
- Dalmau, J.
- Danielsen, K.M.
- D'Auria, S.
- Dawson, I.
- De Jong, P.
- Dervan, P.
- Dobson, E.
- Doherty, F.
- Doležal, Z.
- Donega, M.
- D'Onofrio, M.
- Dorholt, O.
- Doubrava, M.
- Duerdoth, I.P.
- Duisters, C.
- Duxfield, R.
- Dwuznik, M.
- Eckert, S.
- Eklund, L.
- Escobar, C.
- Evans, D.L.
- Fadeyev, V.
- Fasching, D.
- Feld, L.
- Ferguson, D.P.S.
- Ferrari, P.
- Ferrere, D.
- Fopma, J.
- Ford, P.
- Fortin, R.
- Foster, J.M.
- Fox, H.
- Fraser, T.J.
- Freestone, J.
- French, R.S.
- Fuster, J.
- Gallop, B.J.
- Galuska, M.
- Gannaway, F.
- García, C.
- García-Navarro, J.E.
- Gibson, M.
- Gibson, S.
- Gnanvo, K.
- Godlewski, J.
- Gonzalez, F.
- Gonzalez-Sevilla, S.
- Goodrick, M.J.
- Gorfine, G.
- Gorisek, A.
- Gornicki, E.
- Greenall, A.
- Greenfield, D.
- Gregory, S.
- Grillo, A.A.
- Grosse-Knetter, J.
- Gryska, C.
- Haddad, L.
- Hara, K.
- Harris, M.
- Hartjes, F.G.
- Hauff, D.
- Hawes, B.
- Hayler, T.
- Haywood, S.J.
- Heinemann, F.
- Heinzinger, K.
- Hessey, N.P.
- Heusch, C.
- Hicheur, A.
- Hill, J.C.
- Hodgkinson, M.
- Hodgson, P.
- Hollins, T.I.
- Holt, R.
- Homna, J.
- Horažiovský, T.
- Howell, D.
- Hughes, G.
- Huse, T.
- Ibbotson, M.
- Ikegami, Y.
- Ilyashenko, I.
- Issever, C.
- Jakúbek, J.
- Jackson, J.N.
- Jakobs, K.
- Jared, R.C.
- Jarron, P.
- Johansson, P.
- John, D.
- Jones, A.
- Jones, M.
- Jones, T.J.
- Joos, D.
- Joseph, J.
- Jovanovic, P.
- Jusko, J.
- Jusko, O.
- Kaplon, J.
- Karagoz-Unel, M.
- Ketterer, Ch.
- Kodyš, P.
- Koffeman, E.
- Kohout, Z.
- Kohriki, T.
- Kok, H.
- Kondo, T.
- Koperny, S.
- Korporaal, A.
- Koukol, V.
- Král, V.
- Kramberger, G.
- Kubík, P.
- Kudlaty, J.
- Kuilman, W.
- Kundu, N.
- Lacasta, C.
- Lacuesta, V.
- Lau, W.
- Lee, S.C.
- Leguyt, R.
- Leney, K.
- Lenz, S.
- Lester, C.G.
- Liang, Z.
- Liebicher, K.
- Limper, M.
- Lindquist, L.E.
- Lindsay, S.
- Linhart, V.
- Lintern, A.
- Locket, C.
- Lockwood, M.
- Loebinger, F.K.
- Lozano, M.
- Ludwig, I.
- Ludwig, J.
- Lutz, G.
- Maassen, M.
- MacIna, D.
- MacPherson, A.
- MacWaters, C.
- Magrath, C.A.
- Malecki, P.
- Mandić, I.
- Mangin-Brinet, M.
- Marshall, G.
- Martí-García, S.
- Martinez-Mckinney, G.F.M.
- Matheson, J.P.
- McEwan, F.
- McMahon, S.J.
- McPhail, D.
- Meinhardt, J.
- Mellado, B.
- Mercer, I.J.
- Messmer, I.
- Mikulec, B.
- Mikuž, M.
- Mima, S.
- Mistry, K.
- Mitra, A.
- Mitsou, V.A.
- Modesto, P.
- Moed, S.
- Mohn, B.
- Moles, R.
- Moorhead, G.F.
- Moreno, B.
- Morin, J.
- Morris, J.
- Moser, H.G.
- Moszczynski, A.
- Muijs, A.J.M.
- Munneke, B.
- Murray, W.J.
- Muskett, D.
- Nacher, J.
- Nagai, K.
- Naito, D.
- Nakano, I.
- Nelson, C.
- Nichols, A.
- Nickerson, R.B.
- Nisius, R.
- Noviss, J.
- Olcese, M.
- O'Shea, V.
- Oye, O.K.
- Paganis, S.
- Palmer, M.J.
- Parker, M.A.
- Parzefall, U.
- Pater, J.R.
- Pernegger, H.
- Perrin, E.
- Phillips, A.
- Phillips, P.W.
- Pieron, J.P.
- Poltorak, K.
- Pospíšil, S.
- Postranecky, M.
- Pritchard, T.
- Prokofiev, K.
- Raine, C.
- Ratoff, P.N.
- Reitmeijer, A.
- Řezníček, P.
- Richter, R.H.
- Robichaud-Véronneau, A.
- Robinson, D.
- Robson, A.
- Rodriguez-Oliete, R.
- Roe, S.
- Rolfe, G.
- Rövenkamp, J.
- Runge, K.
- Saavedra, A.
- Sadrozinski, H.F.W.
- Sanchez, F.J.
- Sandaker, H.
- Schieck, J.
- Schuijlenburg, H.
- Siegrist, J.
- Seiden, A.
- Sfyrla, A.
- Simm, G.
- Slatter, J.
- Slavíéek, T.
- Smith, B.
- Smith, K.M.
- Smith, N.A.
- Snippe, C.
- Snow, S.W.
- Solar, M.
- Solberg, A.O.
- Sopko, B.
- Sopko, V.
- Sospedra, L.
- Southern, G.D.
- Sowinski, M.
- Spencer, E.
- Spieler, H.
- Stanecka, E.
- Stapnes, S.
- Stastny, J.
- Šteckl, I.
- Stodulski, M.
- Strachko, V.
- Stradling, A.
- Stugu, B.
- Sutcliffe, P.
- Szczygiel, R.
- Takashima, R.
- Tanaka, R.
- Tappern, G.
- Tarrant, J.
- Taylor, G.N.
- Temple, S.
- Teng, P.K.
- Terada, S.
- Thompson, R.J.
- Thresher, N.E.
- Titov, M.
- Tovey, D.R.
- Tratzl, G.
- Tricoli, A.
- Turala, M.
- Turner, P.R.
- Tyndel, M.
- Ullán, M.
- Unno, Y.
- Vickey, T.
- Vacek, V.
- Van Der Kraaij, E.
- Van Ovenbeek, M.
- Viehhauser, G.
- Vu, C.
- Villani, E.G.
- Vu Anh, T.
- Vossebeld, J.H.
- Wachler, M.
- Wallny, R.
- Ward, C.P.
- Warren, M.R.M.
- Wastie, R.
- Weber, M.
- Weidberg, A.R.
- Weilhammer, P.
- Wells, P.S.
- Werneke, P.
- Wetzel, P.
- White, M.J.
- Wiesmann, M.
- Wilmut, I.
- Wilson, J.A.
- Wolter, M.
- Wormald, M.P.
- Wu, S.L.
- Wu, X.
- Zimmer, J.
- Zsenei, A.
- Zhu, H.
- Show all authors +
Journal:
Journal of Instrumentation
ISSN: 1748-0221, 1748-0221
Year of publication: 2008
Volume: 3
Issue: 5
Type: Article
