Scanning probe microscopies applied to the study of the domain wall in a ferroelectric crystal

  1. Canet-Ferrer, J.
  2. Martín-Carrón, L.
  3. Martínez-Pastor, J.
  4. Valdés, J.L.
  5. Peña, A.
  6. Carvajal, J.J.
  7. Diaz, F.
Revista:
Journal of Microscopy

ISSN: 0022-2720,  1365-2818

Año de publicación: 2007

Volumen: 226

Número: 2

Páginas: 133-139

Tipo: Artículo

DOI: 10.1111/J.1365-2818.2007.01766.X GOOGLE SCHOLAR

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