Analysis of spatially and temporally overlapping events with application to image sequences

  1. Ayala, G.
  2. Sebastian, R.
  3. Díaz, M.E.
  4. Díaz, E.
  5. Zoncu, R.
  6. Toomre, D.
Revista:
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence

ISSN: 0162-8828

Año de publicación: 2006

Volumen: 28

Número: 10

Páginas: 1707-1712

Tipo: Artículo

DOI: 10.1109/TPAMI.2006.199 GOOGLE SCHOLAR
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