JEM-X: The X-ray monitor on integral

  1. Budtz-Jørgensen, C.
  2. Lund, N.
  3. Westergaard, N.J.
  4. Brandt, S.
  5. Hornstrup, A.
  6. Rasmussen, I.L.
  7. Laursen, S.
  8. Pedersen, S.M.
  9. Kristensen, R.
  10. Mogensen, P.B.
  11. Andersen, K.H.
  12. Rasmussen, I.
  13. Polny, J.
  14. Jensen, P.A.
  15. Oxborrow, C.A.
  16. Chenevez, J.
  17. Omø, K.
  18. Kämäräinen, V.
  19. Andersson, T.
  20. Vilhu, O.
  21. Huovelin, J.
  22. Costa, E.
  23. Feroci, M.
  24. Rubini, A.
  25. Morelli, E.
  26. Morbidini, A.
  27. Frontera, F.
  28. Pelliciari, C.
  29. Loffredo, G.
  30. Zavattini, G.
  31. Carassiti, V.
  32. Morawski, M.
  33. Juchnikowski, G.
  34. Reglero, V.
  35. Peris, J.
  36. Collado, V.
  37. Rodrigo, J.M.
  38. Perez, F.
  39. Requena, J.L.
  40. Larsson, S.
  41. Svensson, R.
  42. Zdziarski, A.
  43. Castro-Tirado, A.
  44. Schnopper, H.W.
  45. Mostra tots els autors/es +
Actes:
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

ISSN: 0277-786X

Any de publicació: 2004

Volum: 5165

Pàgines: 139-150

Tipus: Aportació congrés

DOI: 10.1117/12.506791 GOOGLE SCHOLAR

Objectius de Desenvolupament Sostenible

Font de les dades: Scopus