Análisis microestructural de mullitas por difracción de rayos X

Resumen

SE HAN EMPLEADO DOS METODOS DE ANALISIS MICROESTRUCTURAL POR DIFRACCION DE RAYOS X (METODOS DE WARREN Y AVERBACH Y DE LA FUNCION DE VOIGT) PARA ESTUDIAR UN CONJUNTO DE MUESTRAS DE MULLITAS SINTETICAS Y NATURALES. SE HAN ESCOGIDO CON ESTE FIN LAS REFLEXIONES DE MULLITA 110, 120, 210, 001, 220, 111 Y 121. LAS MULLITAS SINTETICAS SE OBTUVIERON A PARTIR DE LA TRANSFORMACION TERMICA DE CAOLINES Y CIANITA, Y POR CALCINACION DE MEZCLAS CAOLIN-ALUMINA. LOS RESULTADOS DEL ESTUDIO INDICAN QUE EXISTE UNA RELACION INVERSA ENTRE LA CRISTALINIDAD DE LA CAOLINITA INICIAL Y LA DE LA MULLITA FORMADA POR TRANSFORMACION TERMICA, DE MANERA QUE LAS CAOLINITAS MAS CRISTALINAS ORIGINAN LAS MULLITAS MENOS CRISTALINAS. LOS CRISTALITOS DE MULLITA MUESTRAN UN DESARROLLO PREFERENTE A LO LARGO DE LA DIRECCION DEL EJE C A TEMPERATURAS DE OBTENCION INFERIORES A LOS 1300 GRADOS C, MIENTRAS QUE A 1500 GRADOS C SE OBSERVA UN NOTABLE DESARROLLO DE LOS CRISTALES A LO LARGO DE OTRAS DIRECCIONES. ESTOS RESULTADOS CONFIRMAN UN CAMBIO ENTRE MORFOLOGIAS PRISMATICAS Y TABULARES ASOCIADO A LA TEMPERATURA.